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DYSK 納米粒度Zeta電位分析儀 價格� 編號:NANOTRAC WAVE II

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詳細�(nèi)� �(guī)格參�(shù) �(chǎn)品包�

主要特點�

? 采用先進的動態(tài)光散射技�(shù),引入能普概念代�?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜�

? “Y”型光纖光路系統(tǒng),通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對�(yīng)�(chǎn)生微電場,測量同一體系的Zeta電位� 避免樣品交叉污染與濃度變��

? 異相多譜勒頻移技�(shù),較之傳�(tǒng)的方�,獲得光信號強度高出幾個數(shù)量級,提高分析結(jié)果的可靠��

? 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移�(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏��

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)�,減少了多重散射�(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確��

? 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method�,迅速處理檢測系�(tǒng)獲得的能�,縮短分析時��

? 膜電極設(shè)�,避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準確測量顆粒電泳速度�

? 無需比色�,毛細管電泳池或外加電極�,僅需點擊Zeta電位操作�,一分鐘�(nèi)即可得到分析�(jié)�

? 消除多種空間位阻對散射光信號的干�,諸如光路中不同光學元器件間傳輸?shù)膿p�,樣品池位置不同帶來的誤�,比色皿器壁的折射與污染,分散介�(zhì)的影�,多重散射的衰減�,提高靈敏度�


粒度分析范圍�0.3nm-10μm 

重現(xiàn)性誤差:�1% 

濃度范圍�100ppb-40%w/v 

檢測角度�180° 

分析時間�30-120� 

準確性:全量程米氏理論及非球形顆粒校正因� 

測量精度:無需�(yù)�,依�(jù)實際測量�(jié)�,自動生成單�/多峰分布�(jié)� 

理論�(shè)計溫度:0-90�,可以進行程序升溫或降� 

兼容性:水相和有機相